光纖連接器研磨拋光工藝以及缺陷原因(yīn)分析
點擊:0次 責任(rèn)編輯:未知 發表時間:2016-09-21 18:35:23
1、光(guāng)纖連接(jiē)器的研(yán)拋的原因
光纖連接器作為組成光纖(xiān)係統最重要的光(guāng)無源器件之一,在性能上要求其插入損耗更低、回波損耗更高,以提高光纖傳輸係統可靠性。評價(jià)光纖連接器的質量,需要測量(liàng)連接器插針體端麵在研磨拋光後的形狀參數,包括曲率半徑、頂點(diǎn)偏(piān)移量及纖芯凹陷(xiàn)量等三個重要參(cān)數。隻有使端(duān)麵形狀參數保證(zhèng)在一定(dìng)的範圍之內,才能(néng)保證光纖保持良好(hǎo)的(de)物理接觸;另外,還(hái)要盡量去除光纖端(duān)麵的變質層,並(bìng)測試光纖端麵是否有劃痕或其它汙損。最後要(yào)滿(mǎn)足插入損耗低、回波損耗高的性能(néng)。因此,光纖連接器的研磨(mó)與拋光過(guò)程對提(tí)高其
光學性(xìng)能(néng)非常(cháng)關鍵。
2、光纖(xiān)連接器(qì)研拋工藝
光纖研磨加工過程是研磨砂紙表麵(miàn)眾多(duō)單個磨粒於光纖(xiān)表麵綜合作用結果。
四部研磨法:去膠包——粗研磨——半精研磨——精研磨——拋光
(1)對於外包是陶瓷(cí)套管的光纖(xiān)連接器,如 FC 型、SC 型、ST 型、LC 型的光纖連接(jiē)器主要采用金剛石係列的研磨片進(jìn)行研磨,用 ADS 進行拋光。研磨工藝:SC30/15-D9-D6-D3-D1-ADS/氧化鈰拋光膜+SiO2拋光液;或SC30/15-D9-D3-D1-ADS/氧化鈰拋光膜+SiO2拋光(guāng)液;或SC30/15-D9-D1-ADS/氧化鈰拋光膜+SiO2拋光液。其中SC30/15 碳化矽研磨片用於去膠包(bāo);D9 或D6 或(huò)D3 金剛石研磨片用於粗研磨;D1 金(jīn)剛石研磨片(piàn)用於半精磨磨;D0.5 金剛石研磨片用(yòng)於精磨。ADS/氧化(huà)鈰拋光膜+SiO2拋光液用於拋光。研磨墊采用橡膠墊。
(2)APC 陶瓷套管的光纖連(lián)接器,研磨過(guò)程中首先需(xū)要大粒度金剛石研磨紙開斜麵,之(zhī)後在(zài)用 D9-D1-ADS 研拋。
(3)對於外包是塑料套管的光纖連接器,如 MT-RJ 類的光纖連接器研磨工藝:SC30/15-SC9-SC6-SC3-SC1,用黑皮+氧化鈰(shì)研磨液進行拋光;研磨墊采用玻璃墊(diàn)。
注意:
(1)在(zài)研拋的過程中,每一(yī)步研磨完要用純淨水及無塵擦拭紙將插針體端麵清洗幹淨;
(2)研拋過程中(zhōng)一般(bān)用水作為研磨介質(zhì);
(3)研拋定位定位時應注意(yì)等高(gāo),否則(zé)會造(zào)成長度不一。定位時研(yán)磨盤和(hé)插針要保持垂(chuí)直,否則會造成凸球麵偏移量不良(偏(piān)心);
(4)因各家廠商插針不同而影響研拋參數;
(5)研磨用(yòng)的研磨紙要比工件硬(yìng),而拋光用的拋光片要比(bǐ)工件軟。
3、光纖連接器研拋常見的缺陷
(1)裂纖
光纖局部或全(quán)部出(chū)現深度斷裂(liè),斷口齊整光滑,端檢儀上顯示為(wéi)大黑塊,見圖 a。
產生原(yuán)因:
A:插芯頭上的保護膠太大、太厚或太(tài)小,研磨時整塊脫落,光纖局(jú)部應力(lì)過大,導致脆性斷裂。
B:研磨(mó)機轉速過(guò)快或者(zhě)研磨過程不平穩,光纖(xiān)承受應力(lì)過(guò)大且不(bú)均勻,導致裂纖。
(2)黑點、白點
黑點和白點都是凹坑,黑(hēi)點是深凹坑、白點是淺凹坑,見(jiàn)圖 b、c。
產生原因:
A:D1 研磨紙切削力不夠,或者上一道太粗糙,以至於不能修複;
B:D1 或拋(pāo)光片中有大顆粒雜質,導致(zhì)光纖損傷,出現凹坑;
C:D1 或拋光(guāng)片塗層脫落,夾雜在插芯與研磨片之間,光纖因局部應力過大,出現凹坑;
D:研磨機運轉不平穩,或研磨過(guò)程混入(rù)雜質,導致光纖(xiān)因局部應力過大,出現凹坑。
(3)黑邊
光纖與陶瓷連(lián)接處出現顏色較深的黑環,實質上是光纖邊緣(yuán)及環氧膠斷裂較深,應反光差異,發黑(hēi),見圖 d。
A:D1 研(yán)磨(mó)力過大,導致光纖邊緣及環氧膠出(chū)現崩(bēng)裂,拋光(guāng)不能修複(fù);
B:D1 研磨片(piàn)粉料脫落嚴重,造成滾動研磨,導致光纖邊緣及環氧膠出現崩裂,拋光不能修複;
C:D1 研磨力太弱,上(shàng)道研磨造成的邊緣凹(āo)坑(kēng) 不能徹底修複,拋光也不能修複;
D:研磨機轉速過快(kuài)、或壓力過大。
(4)燒焦
插芯端麵(miàn)粘上一層較厚的物質(磨(mó)屑和(hé)膠混合(hé)物),基本看不到光纖(xiān),見圖e。
A:研磨壓力較大,橡膠墊硬度高,研磨片(piàn)在研磨壓力作用(yòng)下,研磨後期塗層表麵的磨(mó)料大大減少(shǎo),切削力嚴重下降;
B:塗層軟(ruǎn)化點低,在(zài)研磨力作(zuò)用下膠黏(nián)劑發粘(zhān),塗(tú)層表麵粘有大量磨屑,最終轉移(yí)到(dào)插芯端麵,造成燒焦現(xiàn)象。
(5)劃痕
插芯端麵出現黑直(zhí)線或白直線,黑直線為深劃(huá)傷痕,白直線為淺劃傷痕,見圖 f。
A:研磨片裏有雜質等(děng)異(yì)常大顆粒,或研(yán)磨片表麵不平整,導致(zhì)光纖局部受力(lì)大,切削深度大而造成劃痕(hén);
B:研磨壓力小,研磨機運轉不平(píng)穩,導(dǎo)致局部應力過大,切削深度大而造成劃痕;
C:研磨片存在開刃現象,表麵很硬且不夠平整,導致局(jú)部(bù)應力過大,切削深度大而造成劃痕;
D:拋光片異常造成,拋光片中二氧化矽顆粒團聚,或拋光片無切削力。 本文地址(zhǐ):
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