注：此TP-23早期頒（bān）布EIA RS-364
1.0 TP-23低等位接觸電阻
2.0 目的
本（běn）方法是介紹一種在標準方法測量（liàng）一配套端子，在絕緣層沒（méi）有被破壞或（huò）熔化的（de）情況（kuàng）下的接觸電阻。
3.0 樣品準備
3.1 測試樣品由（yóu）一對配合的端子組成，如一個錫腳和一焊（hàn）座﹐極性相反的相配套端子或印刷電路板和它的（de）配合端子。
3.2 用規（guī）格中所說明的電線按圖2A所示進行聯機﹐端子配合如圖2B所示﹒
3.3 測試（shì）樣品（pǐn）應組裝成能進行正常工作的連接器﹐不能安裝成連接器的（de）樣品不得以任何其它（tā）方法強行（háng）安裝，若強行安裝會影響相配端子（zǐ）內接觸麵的強力。
4.0 測試方法
4.1 測試儀器
    測試儀器包括﹕
4.1.1滿偏量程精確至±2％或確切讀數（shù）精確至±10％的合適範圍（wéi）的毫伏表。
4.1.2一個低等位回路具備傳遞和（hé）準（zhǔn）確測量（liàng）最大電流100mA和最大開路電位20 mV的能力。圖1所示的一種可行的回路（此回路（lù）輸出測試電流為（wéi）1mA），對（duì）於（yú）交流測量﹐此頻率不超過2KHz﹒   
4.1.3測量可用直流或交流電進行﹐但（dàn）無論如何﹐應當控製直流測試（shì）。
4.2測試步驟
4.2.1連接測試樣品T1和T2。
4.2.2在測試回路正方向上加電壓﹐並（bìng）紀錄電壓降包括電壓Vf和電流If的極性。
4.2.3在測試回路反方向上加電壓﹐並紀錄（lù）電壓（yā）降包括電壓Vr和電流Ir的極性。
4.2.4接觸電阻等於正反方（fāng）向（xiàng）壓降的（de）差的（de）絕對值除以正向電流和反向電（diàn）流絕對值之（zhī）和，公式如下﹕
              R＝|Vf－Vr |/（|If|+| Ir |）
其中﹕ R=接觸（chù）電阻 單位﹕奧姆
        Vf =正向壓（yā）降包括極性 單位﹕伏特
        Vr =反向壓降包括極性 單位﹕伏特
        If =正向測試電流（liú）    單（dān）位﹕安培
        Ir =反（fǎn）向測試電（diàn）流    單（dān）位﹕安培
4.2.5 預防措施
4.2.5.1測試前或測試期間（jiān）﹐測試（shì）樣品加壓不得超過20mV。
4.2.5.2        導線（xiàn）總（zǒng）電（diàn）阻（包括接觸端和主要電阻）應不少（shǎo）於100mΩ。
4.2.5.3        在任何預先狀態和環境暴露之間低壓電阻測（cè）試完成前﹐不（bú）可以中斷端（duān）子接觸。
5.0 細節說明
    當按規格進行測試時,下列細節要（yào）被說明﹕
（a） 被測樣品數目﹔
（b） 導線的類型和尺寸﹔
（c） 電阻的（de）要（yào）求﹔
（d） 尺寸Y－Y（見圖2A）
6.0 參考（kǎo）文件
數據窗體應包括（kuò）﹕
（a）測試（shì）標（biāo）題﹔
（b）樣品描述﹔
（c）所用測試儀器（qì）﹔
（d）測試步（bù）驟﹔
（e）評估和觀測﹔
（f）測試日期和（hé）操作者姓名﹔
（g）樣品分（fèn）析。
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